Das Röntgenfluoreszenzspektrometer (XRF) ist eine schnelle, zerstörungsfreie Materialmessmethode, die hauptsächlich zur chemischen Analyse, Elementar- und Spurenelementanalyse verwendet wird und die Fähigkeit hat, nahezu jedes Element von Magnesium bis Uran zerstörungsfrei zu quantifizieren oder zu qualifizieren. Es wird häufig in der Elementaranalyse und chemischen Analyse verwendet, insbesondere bei der Untersuchung und Erforschung von Metallen, Glas, Keramik und Baumaterialien, Geochemie, Forensik, Archäologie und Kunstwerken wie Ölgemälden und Wandmalereien. Im Vergleich zu anderen analytischen Techniken erfordert XRF keine oder nur sehr wenig Probenvorbereitung und ist kostengünstig.